安捷倫串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS 8900

質(zhì)譜儀安捷倫Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業(yè)中成功且應用廣泛的串聯(lián)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀。安捷倫Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置，適合從常規商業(yè)分析到高級研究和高純度材料分析的應用，其重新定義了 ICP-MS 性能，可提供可靠的分析結果。

安捷倫串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS 8900 系統具有與安捷倫市場(chǎng)領(lǐng)先的單四極桿 ICP-MS 系統相同的基質(zhì)耐受性和穩定性，并與超高效的氦 (He) 碰撞模式相結合。但 8900 系統增加了串聯(lián)質(zhì)譜操作 (ICP-MS/MS)，可對碰撞反應池 (CRC) 中的反應化學(xué)過(guò)程進(jìn)行精確的控制，使其成為強大、靈活的多元素分析儀。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干擾，讓您的結果可靠無(wú)疑。

特性

• MS/MS 控制反應化學(xué)過(guò)程，可確保提供一致、可靠的結果，即使對于此前難以分析的元素（如 Si、P 和 S）也是如此
• 反應化學(xué)過(guò)程可解決同量異位素重疊問(wèn)題，這超出了高分辨率 ICP-MS 的能力
• 四通道反應池氣體控制可提供快速、靈活的多模式操作
• 一套預設方法簡(jiǎn)化了常規分析的方法設置
• 氦氣模式可簡(jiǎn)單、有效地控制常見(jiàn)的多原子干擾
• 穩定的（低 CeO/Ce）等離子體，可提供出色的基質(zhì)耐受性
• 超高基質(zhì)進(jìn)樣 (UHMI) 技術(shù)可耐受總溶解固體量 (TDS) 高達 25% 的樣品
• 高靈敏度和低背景為超痕量分析物提供了超低的檢測限
• 通用性和高性能相結合，支持高級研究和要求苛刻的應用
• 靈活的操作模式（母離子/產(chǎn)物離子掃描）支持對反應化學(xué)模式進(jìn)行研究

串聯(lián)四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯(lián)質(zhì)譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應池 (CRC) 前增加了一個(gè)額外的四極桿質(zhì)量過(guò)濾器 (Q1)，因此質(zhì)譜干擾問(wèn)題可以通過(guò)反應池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質(zhì)量分辨率下實(shí)現高離子傳輸效率，ICP-MS/MS 的兩個(gè)四極桿都必須在高真空條件下運行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無(wú)法實(shí)現成功分析的高級應用。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀工作原理

ICP-MS/MS 使用兩個(gè)四極桿質(zhì)量過(guò)濾器對離子進(jìn)行兩次過(guò)濾，Q1 位于 CRC 之前，Q2 位于 CRC 之后。雙重質(zhì)量過(guò)濾 (MS/MS) 能夠控制 CRC 中用于解決質(zhì)譜重疊干擾的反應過(guò)程。Q1 剔除目標分析物質(zhì)量以外的所有離子，因此只有分析物離子和相同質(zhì)量的干擾物能夠進(jìn)入 CRC。反應池氣體將分析物離子與重疊離子分離，且不存在單四極桿 ICP-MS 中可能發(fā)生的其他元素或同位素形成新的重疊產(chǎn)物離子的風(fēng)險。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的用途

ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無(wú)法實(shí)現理想分析的高要求應用。這些應用可能需要極低的檢測限，例如，檢測半導體制程化學(xué)品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質(zhì)量數重疊干擾以及高強度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規分析物，如 Si、P、S、Cl，甚至是 F。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的應用

高靈敏度和 MS/MS 模式 — 對半導體干擾實(shí)現出色的控制

ICP-MS/MS 為半導體和材料行業(yè)提供了更低的檢測限和更出色的干擾控制。領(lǐng)先制造商使用 8900 確保其高純度工藝化學(xué)品和材料的質(zhì)量。

超高靈敏度、超低背景以及極短的 0.1 ms 駐留時(shí)間可確保準確檢測出最小納米顆粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干擾，從而實(shí)現 SiO₂ 和 TiO₂ NP 的低濃度分析。

反應氣體模式可分離地質(zhì)年代學(xué)及核化學(xué)中的同質(zhì)異位素重疊

MS/MS 控制碰撞/反應池中的化學(xué)反應，使研究人員能夠分離阻礙地球化學(xué)測量的同質(zhì)異位素重疊。8900 可分離 ²⁰⁴Hg 與 ²⁰⁴Pb、⁸⁷Rb 與 ⁸⁷Sr 以及 ¹⁷⁶Lu 與 ¹⁷⁶Hf 等重疊，實(shí)現準確的地質(zhì)年代學(xué)同位素比值分析。
MS/MS 還可分離用于核研究和核退役測量的放射性核素的直接重疊，提高豐度靈敏度，分離峰拖尾重疊（如 ²³⁸U 與 ²³⁷Np）。

提供輕松應對生命科學(xué)新應用的性能和靈活性

安捷倫 ICP-MS/MS 儀器可以分離先前難以分析的元素（如 Cl、P 和 S）的光譜重疊，徹底顛覆了生命科學(xué)研究。使研究人員能夠對蛋白質(zhì)和肽直接進(jìn)行基于 S 和 P 雜元素的單獨化合物定量分析。

新型測量的執行能力開(kāi)辟了藥物開(kāi)發(fā)、臨床研究和毒液組學(xué)等全新的研究領(lǐng)域。